FischerScope MMS PC2電子行業(yè)銅厚測厚儀的詳細(xì)資料：

FischerScope MMS PC2電子行業(yè)銅厚測厚儀

FischerScope MMS PC2電子行業(yè)銅厚測厚儀
    菲希爾 Fischerscope MMS PC2多功能測量系統(tǒng)，菲希爾 Fischerscope MMS PC2多功能測量系統(tǒng)的模塊化設(shè)計(jì)，允許對儀器按客戶的要求進(jìn)行配備，并可以在需要的時(shí)候配備其它的模塊和探頭進(jìn)行升級改進(jìn)。根據(jù)需求可以在儀器上采用不同的測量方法

菲希爾 Fischerscope MMS PC2多功能測量系統(tǒng)帶內(nèi)置 Windows™ CE 操作系統(tǒng)和網(wǎng)絡(luò)互聯(lián)功能的臺(tái)式多功能測量系統(tǒng)，尤其適合于無損，高精度的鍍層厚度測量及材料測試。操作 MMS PC2 可以使用大尺寸且高分辨率的彩色觸摸屏，或是鍵盤和鼠標(biāo)。帶有LAN和USB接口，可集成于自動(dòng)生產(chǎn)線中。此外，可以同時(shí)使用*多8個(gè)探頭進(jìn)行測量。

菲希爾 Fischerscope MMS PC2多功能測量系統(tǒng)的模塊化設(shè)計(jì)，允許對儀器按客戶的要求進(jìn)行配備，并可以在需要的時(shí)候配備其它的模塊和探頭進(jìn)行升級改進(jìn)。根據(jù)需求可以在儀器上采用不同的測量方法，如電渦流法、磁性法、磁感應(yīng)法或電阻法等。能測量金屬上幾乎所有材料的鍍層厚度，以及非導(dǎo)電材料上的金屬鍍層厚度。它還可以用來測定非鐵磁金屬的電導(dǎo)率和測量奧氏體或雙相鋼材中的鐵素體含量。

使用 BETASCOPE® 模塊，可按beta背散射方法測量不同底材上有機(jī)物和金屬鍍層的厚度，也就意味著可以測量任意底材上的任意涂層，只要兩者材料間的原子序數(shù)差達(dá)到5以上。配上適合的探頭，出于質(zhì)量控制目的，甚*能測量軟性鍍層和潤滑鍍層的厚度，如不銹鋼上的有機(jī)納米膜（防指紋膜）或是金屬板生產(chǎn)加工過程中的防銹油脂層

在配備了合適的測量模塊后，MMS PC2可靈活運(yùn)用于來料檢驗(yàn)，出廠檢驗(yàn)，或是生產(chǎn)監(jiān)控等。它能提供多種數(shù)據(jù)報(bào)告方式，并通過FISCHER的FDD軟件進(jìn)行質(zhì)量和過程控制。還可以方便地建立自動(dòng)測量，因?yàn)闇y量系統(tǒng)可以直接控制馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的測量臺(tái)或XY樣品臺(tái)，并通過LAN及I/O模塊嵌入自動(dòng)生產(chǎn)線。